Charakterystyka ogólna
PROGRAM I ĆWICZENIA
1. Wprowadzenie.
Znaczenie metod statystycznych, w szczególności SPC i MSAwe współczesnych systemach zarządzania jakością i innych kulturach organizacyjnych generujących jakość (ISO 9001:2015, IATF 16949:2016, Six Sigma.
Statystyczne narzędzia jakości – krótka charakterystyka, przeznaczenie, normy, przewodniki (IS0/TR 10017).
2. SPC. Zmienność. Podstawowa statystyczna analiza danych (statystyczny opis zmienności).
Definicja procesu.
Zmienność - redukcjazmienności to poprawa jakości.
Przyczyny przypadkowe i szczególne zmienności, pojęcie procesu stabilnego (pod kontrolą) i rozregulowanego (poza kontrolą).
Techniki rejestrowania i analizy zmienności- statystyczna analiza danych.
Statystyczny opis zmienności - wyznaczanie i interpretacja parametrów opisowych (średnia, mediana, rozstęp, ruchomy rozstęp, odchylenie standardowe, skośność, kurtoza itd.), konstrukcja histogramu (dobór liczby przedziałów), rozkład empiryczny a rozkład teoretyczny, rozkład normalny.
Przykłady, ćwiczenia.
3. SPC. Zdolność procesu/maszyny.
Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu według strategii podstawowej (Cp, Cpk) oraz według ISO/TR 22514-4 (Cp, Cpk, Pp, Ppk).
Krótka charakterystyka innych strategii oceny zdolności (AIAG, VDA). Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności maszyny Cm, Cmk (ISO/TR 22514-3).
Ocena zdolności procesu/maszyny w przypadku rozkładów innych od rozkładu normalnego – metoda percentylowa wraz z wykorzystaniem przybliżonej metody rachunkowej Clementsa (ISO/TR 22414-4).
Zdolność procesu w przypadku oceny alternatywnej.
Przykłady, ćwiczenia.
4. SPC. Karty przebiegu procesu, karty kontrolne jako narzędzia monitorowania i doskonalenia procesu.
Karty przebiegu procesu a karty kontrolne.
Karty kontrolne Shewharta.
Ogólne zasady funkcjonowania kart kontrolnych Shewharta (trzysigmowość karty, metody konstrukcji karty, błędy wnioskowania, dostosowanie karty do procesu).
Konstrukcja kart kontrolnych Shewarta dla cech mierzalnych (metoda stabilizacyjna tj. na podstawie wstępnych danych z procesu, metoda projektowa tj. na podstawie warunków jakościowych nakładanych na proces) - karta wartości średniej i rozstępu, karta wartości średniej i odchylenia standardowego, karta mediany i rozstępu, karta pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu).
Obliczanie współczynników zdolności procesu Cp, Cpk na podstawie kart kontrolnych dla cech mierzalnych.
Zasady optymalnego doboru karty i jej wykorzystania: dobór liczności próbki, częstość próbkowania, metody próbkowania, kryteria identyfikacji rozregulowania procesu (zasady czytania kart kontrolnych) - sygnały, trendy, serie, „obklejanie” linii kontrolnych, „obklejanie” linii centralnej, periodyczność, rola i znaczenie linii ostrzegawczych, testy strefowe itp. – według PN-ISO 8258+AC1, PN-ISO 7870, itd.).
Karty kontrolne w przypadku oceny atrybutowej: frakcji jednostek niezgodnych p, liczby jednostek niezgodnych np, liczby niezgodności c, liczby niezgodności na jednostkę u.
Przykłady, ćwiczenia.
5. MSA. Podstawowa terminologia i definicje.
Pomiar, błąd/niepewność pomiaru, system pomiarowy, proces pomiarowy.
Zmienność w przypadku procesu pomiarowego od przyrządu pomiarowego (EV), od operatora (AV), od procesu tj. od części-do-części (PV), zmienność całkowita (TV).
6. MSA. Rozróżnialność, poprawność i precyzja.
Objaśnienie pojęć.
Rozróżnialność – dyskryminacja, błąd skali, rozróżnialność statystyczna (liczba rozróżnialnych kategorii ndc).
Poprawność - błąd systematyczny, liniowość, stabilność.
Precyzja - odtwarzalność, powtarzalność, interakcja.
Krzywa operacyjno-charakterystyczna systemu pomiarowego.
Kryteria oceny zdatności systemu pomiarowego do nadzorowania procesu/produktu.
7. MSA. Kwalifikacja systemu pomiarowego ze względu na poprawność.
Metody ocena błędu systematycznego, liniowości, stabilności.
Przykłady, ćwiczenia.
8. MSA. Kwalifikacja systemu pomiarowego ze względu na precyzję.
Metody oceny powtarzalności i odtwarzalności: metoda rozstępu R metodą średniej i rozstępu ARM, metoda analizy wariancji (ANOVA) – możliwy/niemożliwy wielokrotny pomiar na jednej części.
Zdolność systemów pomiarowych, wyznaczanie i interpretacja współczynników Cg, Cgk.
Krótkie uwagi na temat budżetu niepewności.
Przykłady, ćwiczenia.
9. MSA. Kwalifikacja w przypadku oceny alternatywnej (atrybutowej).
Ocena zdatności systemów pomiarowych w przypadku oceny alternatywnej - kryteria.
Metody kwalifikacji systemu pomiarowego: metoda krótka, metoda długa, metoda analityczna, metoda analizy sygnałów.
Metoda długa (R&R dla atrybutów) – skuteczność (effectiveness), przeoczenie (miss), fałszywy alarm (false alarm).
Zgodność ocen: operator/operator, operator/wzorzec - wyznaczanie i interpretacja współczynnika kappa Cohena.
Przykłady, ćwiczenia.
10. Podsumowanie.
11. SPC, MSA w Internecie.
Ćwiczenia:
Statystyczna analiza zbioru danych, wyznaczanie podstawowych parametrów opisowych, interpretacja wyników przeprowadzonych analiz (histogram, reguła trzech odchyleń standardowych).
Weryfikacja normalności – graficzny test normalności, przeprowadzenie/interpretacja, inne prostsze sposoby identyfikacji rozkładu normalnego: kształt histogramu, parametry kształtu tj. skośność i kurtoza.
Wyznaczanie empirycznej (na podstawie danych) i spodziewanej (na podstawie rozkładu teoretycznego) frakcji realizacji poza granicami/granicą specyfikacji.
Obliczanie i interpretacji współczynników zdolności procesu Cp, Cpk – strategia podstawowa.
Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności procesu Cp, Cpk, Pp, Ppk – strategia według ISO/TR 22514-4.
Obliczanie i interpretacji współczynników zdolności maszyny Cm, Cmk.
Obliczanie i interpretacja współczynników zdolności w przypadku rozkładów innych od normalnego – metoda percentylowa.
Konstrukcja kart kontrolnych wartości średniej i rozstępu oraz pojedynczych wartości i ruchomego rozstępu – metoda stabilizacyjna, metoda projektowa.
Wyznaczanie współczynników zdolności Cp, Cpk na podstawie kart kontrolnych skonstruowanych metodą stabilizacyjną.
Interpretacja zachowania się procesu ze względu na zmienność – „czytanie” kart kontrolnych (reguły wg ISO 7870 i inne).
Konstrukcja i interpretacja kart kontrolnych według oceny alternatywnej: karty p, np, c, u.
Wyznaczanie powtarzalności i odtwarzalności systemu pomiarowego metodą rozstępu R – kwalifikacja systemu pomiarowego do nadzorowania procesu/produktu.
Wyznaczanie powtarzalności i odtwarzalności systemu pomiarowego metodą średniej i rozstępuARM – kwalifikacja systemu pomiarowego do nadzorowania procesu/produktu.
Interpretacja wyników oceny powtarzalności i odtwarzalności metodą analizy wariancji ANOVA - kwalifikacja systemu pomiarowego do nadzorowania procesu/produktu.
Porównanie metod ARM oraz ANOVA.
Wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności systemu pomiarowego Cg, Cgk, ocena istotności statystycznej błędu systematycznego (bias).
Ocena systemu pomiarowego w przypadku oceny alternatywnej – metoda długa, wyznaczenia i interpretacja skuteczności (zgodność własna operatorów, zgodność pomiędzy operatorami, zgodność ze wzorcem, fałszywe alarmy, omyłki).
Wyznaczanie i interpretacja współczynnika kappa Cohena.
Metodologia/program
Brak
Trener
Brak
Dodatkowe informacje o szkoleniu
Brak
